4200A-SCS (Parameter Analyzer)  

   
4200A-SCS를 사용하여 반도체 장치, 소재 및 프로세스 개발에 대한 연구, 신뢰성 및 고장 분석 연구를 가속화할 수 있습니다. 최고 성능의 파라미터 분석기인 4200A-SCS는 전류 - 전압(I-V), 커패시턴스 - 전압(C-V) 및 초고속 펄스형 I-V 측정에 대한 동기화된 정보를 제공합니다.

   - DC 전류-전압 (I-V) 범위
     : 10aA ~ 1A, 0.2µV ~ 210V
   - 커패시턴스-전압 (C-V) 범위
     : 1kHz ~ 10MHz, ± 30V DC 바이어스
   - 펄스형 I-V 범위
     : ±40V(80V p-p), ±800mA
       200MSa/sec, 5ns 샘플링 레이트
  

2600-PCT-xB (Parameter Analyzer)  

   
Developing and using MOSFETS, IGBTs, diodes and other high-power devices requires comprehensive device-level characterization such as breakdown voltage, on-state current and capacitance measurements. While I-V curve tracer software supports testing two-terminal devices on graphical SMUs, Keithley also offers high-power Parametric Curve Tracer configurations to support the full spectrum of device types and test parameters. These configurations more closely mimic the old Tektronix I-V curve tracers.

Keithley's Parametric Curve Tracer configurations include everything necessary for the characterization engineer to develop a complete test system quickly. These configurations are also modular, so they can be upgraded in the future and the individual instruments like source measure units can be used for other applications.
  

S500, S530 (Parametric Test Systems)  

   
Today's analog and power semiconductor technologies, including wide bandgap devices such as GaN and SiC, require parametric testing that maximizes measurement performance, enables faster time-to-market, supports a wide product mix, and minimizes the cost of test.

Keithley meets these and other important challenges in critical applications across the workflow with both High Speed Production Solutions and Fully Customizable Test Solutions.